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Anmelder = United Technologies Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
US9766156B2
19.09.17 (57)
Focused optical configuration for NSMS probes
United Technologies Corporation
EP2515073B1
15.11.17 (114)
Method and system for inspecting a surface of an object with an optical scanner and a laser vibrometer | Verfahren und System zur Inspektion der Oberfläche eines Objekts mittels eines optischen Scanners und eines Laservibrometers | Procédé et système pour l'inspection de surface d'un objet avec un scanner optique et un vibromètre laser
United Technologies Corporation
EP2962061B1
06.12.17 (136)
FLASH THERMOGRAPHY DOUBLE WALL THICKNESS MEASUREMENT | BLITZTHERMOGRAFIEMESSUNG MIT DOPPELTER WANDDICKE | MESURE D'ÉPAISSEUR DE DOUBLE PAROI PAR THERMOGRAPHIE À ÉCLAIR
United Technologies Corporation
US9927220B2
27.03.18 (248)
Datum transfer apparatus and method for inspecting coated components
United Technologies Corporation
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