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Anmelder = Mitutoyo Corporation


Erteilte Patente in der Einspruchsfrist

(DE B,C: 3 Monate nach Erteilung; EP B,C: 9 Monate nach Erteilung)

Patentschrift
Erteilung (Frist)
Anmelder
Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
EP1953495B1
26.07.17 (3)
Coordinate measuring auxiliary tool and coordinate measuring probe | Hilfswerkzeug zur Koordinatenmessung und Koordinatenmesssonde | Outil auxiliaire de mesure de coordonnées et sonde de mesure de coordonnées
Mitutoyo Corporation
US9719811B2
01.08.17 (8)
Photoelectric encoder including light-receiving element and light-blocking layer that forms light-blocking portion and light-transmitting portion on light-receiving element
Mitutoyo Corporation
US9719779B2
01.08.17 (8)
Form measuring machine and form measuring method
Mitutoyo Corporation
EP2607839B1
02.08.17 (9)
Optical measuring device with autofocus | Optische Messvorrichtung mit Autofokus | Dispositif de mesure optique avec autofocus
Mitutoyo Corporation
US9726473B2
08.08.17 (15)
Light interference measuring device and program therefor
Mitutoyo Corporation
EP2840354B1
09.08.17 (16)
Form measuring apparatus and method of registering coordinate system for rotary table | Formmessvorrichtung und Verfahren zur Registrierung eines Koordinatensystems für Drehtisch | Appareil de mesure de forme et procédé d'enregistrement d'un système de coordonnées pour table rotative
Mitutoyo Corporation
EP2479536B1
09.08.17 (16)
Optical measuring device with autofocus | Optische Messvorrichtung mit Autofokus | Dispositif de mesure optique avec autofocus
Mitutoyo Corporation
EP1486753B1
09.08.17 (16)
Digital micrometer | Digitalmikrometer | Micromètre numérique
Mitutoyo Corporation
EP1061327B1
09.08.17 (16)
Reseat system | Repositionierungssystem | Système de repositionnement
Mitutoyo Corporation
US9736355B1
15.08.17 (22)
Phase difference calibration in a variable focal length lens system
Mitutoyo Corporation
EP2607840B1
16.08.17 (23)
Optical measuring device with autofocus | Optische Messvorrichtung mit Autofokus | Dispositif de mesure optique avec autofocus
Mitutoyo Corporation
EP2565577B1
16.08.17 (23)
Measuring instrument with flexible display sheet woundable within and drawnable out of the body of the instrument | Messinstrument mit flexibler Anzeigefolie, die innerhalb des Gehäuses des Instruments wickelbar und herausziehbar ist | Instrument de mesure avec feuille d'affichage fléxible pouvant être enroulée à l'intérieur et étirée hors du corps de l'instrument
Mitutoyo Corporation
US9739642B2
22.08.17 (29)
Encoder scale and manufacturing and attaching method thereof
Mitutoyo Corporation
US9739607B2
22.08.17 (29)
Cross-sectional profile measuring method
Mitutoyo Corporation
US9739587B2
22.08.17 (29)
Semiconductor integrated circuit and position detector
Mitutoyo Corporation
EP2439498B1
23.08.17 (30)
Encoder | Codierer | Codeur
Mitutoyo Corporation
US9746303B2
29.08.17 (36)
Coordinate measuring machine and method for calculating correction matrix by coordinate measuring machine
Mitutoyo Corporation
EP2267414B1
30.08.17 (37)
Displacement encoder including phosphor illumination source | Verschiebungscodierer mit Phosphorbeleuchtungsquelle | Encodeur de déplacement incluant une source d'éclairage au phosphore
Mitutoyo Corporation
EP1898428B1
30.08.17 (37)
Surface-profile measuring instrument | Messinstrument für Oberflächenprofile | Instrument de mesure du profil d'une surface
Mitutoyo Corporation
US9752901B2
05.09.17 (43)
Scale and optical encoder
Mitutoyo Corporation
EP2023076B1
06.09.17 (44)
Surface texture measuring instrument | Messinstrument für Oberflächenstrukturen | Instrument de mesure de la texture d'une surface
Mitutoyo Corporation
US9759584B2
12.09.17 (50)
Encoder having a detection head with a reference detection receiving grating and a phase compensation receiving grating
Mitutoyo Corporation
EP1933109B1
20.09.17 (58)
DISPLACEMENT MEASURING TOOL | VERSCHIEBUNGSMESSINSTRUMENT | OUTIL DE MESURE DE DÉPLACEMENT
Mitutoyo Corporation
US9772202B1
26.09.17 (64)
Absolute position encoder combining signals of two widely separated wavelengths
Mitutoyo Corporation
EP1998137B1
27.09.17 (65)
Abnormality detecting method for form measuring mechanism and form measuring mechanism | Verfahren zur Feststellung von Abweichungen für einen Formmessmechanismus und Formmessmechanismus | Procédé de détection d'une anomalie pour mécanisme de mesure de forme et mécanisme de mesure de forme
Mitutoyo Corporation
EP1422491B1
27.09.17 (65)
Method, apparatus and program for setting a workpiece coordinate system origin in a surface property measuring machine | Verfahren, Vorrichtung und Programm zum Setzen des Ursprungs eines Koordinatensystems eines Werkstücks in einem Oberflächentaster | Méthode, appareil et programme de placement de l'origine d'un système de coordonnées d'une pièce dans un appreil de mesure d'une surface
Mitutoyo Corporation
US9778072B1
03.10.17 (71)
Absolute electromagnetic position encoder
Mitutoyo Corporation
EP3064892B1
04.10.17 (72)
MEASURING PROBE | SONDE DE MESURE | MESSSONDE
Mitutoyo Corporation
EP3064891B1
04.10.17 (72)
MEASURING PROBE | SONDE DE MESURE | MESSSONDE
Mitutoyo Corporation
EP3064890B1
04.10.17 (72)
MEASURING PROBE | SONDE DE MESURE | MESSSONDE
Mitutoyo Corporation
EP3076124B1
11.10.17 (79)
TACTILE PROBING SYSTEM | SYSTÈME DE SONDE TACTILE | TAKTILES ABTASTSYSTEM
Mitutoyo Corporation
EP2314981B1
11.10.17 (79)
Appareil de contrôle de la mesure de force | Messkraftsteuergerät | Measuring force control apparatus
Mitutoyo Corporation
US9791262B2
17.10.17 (85)
Measurement device with multiplexed position signals
Mitutoyo Corporation
US9791254B2
17.10.17 (85)
Scale fixating device
Mitutoyo Corporation
DE10037981B4
19.10.17 (87)
Verschiebungsmessvorrichtung
Mitutoyo Corporation
EP2784440B1
25.10.17 (93)
Contour measuring apparatus | Appareil de mesure de contour | Konturmessvorrichtung
Mitutoyo Corporation
US9803972B2
31.10.17 (99)
Optical configuration for measurement device
Mitutoyo Corporation
US9803968B2
31.10.17 (99)
Roundness measurement device and control method
Mitutoyo Corporation
US9810529B2
07.11.17 (106)
Measuring probe for measuring a three-dimensional shape of an object to be measured
Mitutoyo Corporation
US9810516B2
07.11.17 (106)
Measuring apparatus and support mechanism of columnar work piece
Mitutoyo Corporation
EP2574877B1
08.11.17 (107)
Optical probe | Optische Sonde | Sonde optique
Mitutoyo Corporation
EP1795873B1
08.11.17 (107)
Photoelectric Encoder | Fotoelektrischer Kodierer | Codeur photoélectrique
Mitutoyo Corporation
EP1821075B1
29.11.17 (128)
Photoelectric encoder | Fotoelektrischer Kodierer | Codeur photoélectrique
Mitutoyo Corporation
US9835473B2
05.12.17 (135)
Absolute electromagnetic position encoder
Mitutoyo Corporation
EP2657641B1
06.12.17 (136)
Micrometer | Mikrometer | Micromètre
Mitutoyo Corporation
EP1327862B1
13.12.17 (143)
Absolute position measuring device | Absolutes Positionsmesssystem | Dispositif de mesure de la position absolue
Mitutoyo Corporation
EP3124922B1
20.12.17 (150)
OPTICAL ENCODER | OPTISCHER CODIERER | ENCODEUR OPTIQUE
Mitutoyo Corporation
EP2498047B1
20.12.17 (150)
Surface texture measuring apparatus | Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen | Appareil de mesure de la texture d'une surface
Mitutoyo Corporation
US9851224B2
26.12.17 (156)
Displacement measuring device and displacement measuring method
Mitutoyo Corporation
EP3144641B1
27.12.17 (157)
PHOTOELECTRIC ENCODER | FOTOELEKTRICHER CODIERER | CODEUR PHOTOELECTRIQUE
Mitutoyo Corporation
US9869537B2
16.01.18 (176)
Contact probe
Mitutoyo Corporation
EP2434253B1
24.01.18 (184)
Coordinates measuring head unit and coordinates measuring machine | Koordinatenmesskopf und Koordinatenmessmaschine | Tête de mesure de coordonnées et machine de mesure de coordonnées
Mitutoyo Corporation
US9891033B2
13.02.18 (204)
Tilt angle adjuster for form measuring device
Mitutoyo Corporation
EP2110645B1
21.02.18 (212)
Absolute position length measurement type encoder | Absolutpositionscodierer vom Längsmessungstyp | Codeur de type mesure de la longueur absolue de la position
Mitutoyo Corporation
US9903742B2
27.02.18 (218)
Displacement detecting device
Mitutoyo Corporation
US9915516B2
13.03.18 (234)
Method for controlling shape measuring apparatus
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
US9921044B2
20.03.18 (241)
Surface property measuring apparatus and method for controlling the same
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!
EP3098572B1
21.03.18 (242)
LIGHT SOURCE ARRAY USED IN AN ILLUMINATION PORTION OF AN OPTICAL ENCODER | LICHTQUELLENARRAY IN EINEM BELEUCHTUNGSABSCHNITT EINES OPTISCHEN CODIERERS | RÉSEAU DE SOURCE DE LUMIÈRE UTILISÉ DANS UNE PARTIE D'ÉCLAIRAGE D'UN CODEUR OPTIQUE
Mitutoyo Corporation
Neuer Eintrag!