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EP2233884B1

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Europäisches Patentamt
Patentnummer:EP2233884B1
Dokumenttyp:EP B1 EUROPAEISCHE PATENTSCHRIFT
Titel:Verfahren zum Messen der Exzentrizitätsmenge
IPC Hauptklasse:G01B011-27
Anmelder:FUJIFILM Corporation (0)
26-30, Nishiazabu 2-chome
Minato-ku, Tokyo (0)
JP
Erfinder:Ge, Zongtao (0)
c/o FUJINON CORPORATION
1-324, Uetake-cho (0)
Kita-ku, Saitama-shi, Saitama, JP
Takahashi, Kenichi (0)
c/o FUJINON CORPORATION
Anmeldung:24.03.10
Offenlegung:29.09.10
Patenterteilung:04.01.12
Abstract / Hauptanspruch
EP2233884B1

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