Neue Erteilungen (aktuelle monatliche Erfassung)

Patentschrift Erteilung (Frist)		Anmelder Titel der Erfindung (Arbeitstitel)
	DE10034685B4	VEGA Grieshaber KG
	08.07.10 (34)	Energiesparschaltung
	DE10315179B4	Fuji Electric Systems Co.
	08.07.10 (34)	Halbleitermessvorrichtung zum Messen einer physikalischen Grösse
	DE102005042616B4	Bourns, Inc.
	08.07.10 (34)	Drehstellungssensor
	DE102007037726B4	LaVision GmbH
	08.07.10 (34)	Verfahren zur berührungslosen Messung von Verformungen einer Oberfläche eines Messobjektes
	DE102006062750B4	Infineon Technologies AG
	08.07.10 (34)	Vorrichtung zum Erfassen einer Änderung einer physikalischen Grösse mittels einer Stromleiterstruktur
	DE102008062763B3	Hexagon Metrology GmbH
	15.07.10 (41)	Koordinatenmessgerät mit einem Antrieb für ein vertikal bewegliches Bauteil des Koordinatenmessgerätes
	DE102009011352B3	Bourns, Inc.
	15.07.10 (41)	Torsionswinkelsensor
	DE102007000991B4	Vistec Semiconductor Systems GmbH
	15.07.10 (41)	Vorrichtung zur Positionsmessung mindestens einer Struktur auf einem Substrat
	DE102008031484B4	Energy-Consult Projektgesellschaft mbH
	15.07.10 (41)	Verfahren zur Ermittlung und Nachjustierung des relativen Flügeleinstellwinkels an Windenergieanlagen mit horizontalen Antriebsachsen
	DE10123292B4	Rodi, Anton
	22.07.10 (48)	Sensorsystem
	DE10250094B4	Dr. Johannes Heidenhain GmbH
	22.07.10 (48)	Messsystem mit einer Koppelstange
	DE102008050706B3	Stolz, Günter
	29.07.10 (55)	Rohr- und Schellenlehre für genormte Nennweiten in Zoll
	DE19841235B4	Mitutoyo Corp.
	29.07.10 (55)	Positionskalibrierverfahren für eine optische Meßeinrichtung
	DE10258713B4	LayTec Gesellschaft für in-situ und Nano-Sensorik mbH
	29.07.10 (55)	Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung charakteristischer Schichtparameter bei hohen Temperaturen
	DE102007010223B4	Vistec Semiconductor Systems GmbH
	29.07.10 (55)	Verfahren zur Bestimmung geometrischer Parameter eines Wafers und Verwendung des Verfahren bei der optischen Inspektion von Wafern
	DE102007025524B4	KHS AG
	29.07.10 (55)	Opto-elektrisches Erfassungssystem
	DE102008020902B4	Universität Stuttgart
	29.07.10 (55)	Anordnung und Verfahren zur konfokalen, spektralen Zweistrahl-Interferometrie
	EP1393015B1	Kalannin Kaspek Oy
	07.07.10 (215)	EINRICHTUNG FÜR OPTIMIERUNG DER DICKE EINER EISSCHICHT
	EP1499858B1	Carl Freudenberg KG
	07.07.10 (215)	MESSEINRICHTUNG MIT EINEM HALLSENSOR UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DER MESS-EINRICHTUNG
	EP1650535B1	DENSO CORPORATION
	07.07.10 (215)	Sensor und Verfahren zur Kollisionsdetektion
	EP1952088B1	ESSILOR INTERNATIONAL
	07.07.10 (215)	VERFAHREN ZUM SCANNEN DER RANDRILLENKONTUR EINES BRILLENRAHMENS
	EP2079988B1	PLETERSEK, Anton
	07.07.10 (215)	INTERPOLATIONSVERFAHREN UND SCHALTUNG ZUM AUSFÜHREN DES VERFAHRENS ZUR VERWENDUNG IN EINEM HOCHAUFLÖSENDEN KODIERER
	EP2142881B1	Renishaw PLC
	07.07.10 (215)	SPEICHERGERÄT
	EP1517118B1	Thales, 45 rue de Villiers
	14.07.10 (222)	Betätigungsorgan
	EP2089667B1	Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
	14.07.10 (222)	VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM BESTIMMEN VON RAUMKOORDINATEN AN EINER VIELZAHL VON MESSPUNKTEN
	EP1604174B1	Sensornet Limited
	21.07.10 (229)	VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERZEUGUNG UND WEITERLEITUNG EINES HOCH ENERGETICHES OPTISCHES IMPULSES FÜR LANGE STRECKE MESSUNG
	EP1728046B1	Held & Partner GbR
	21.07.10 (229)	VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM OPTISCHEN DETEKTIEREN EINES MATERIALAUFTRAGS
	EP1989505B1	Moving Magnet Technologies "
	21.07.10 (229)	POSITIONSSENSOR MIT VERÄNDERLICHER MAGNETISIERUNGSRICHTUNG UND PRODUKTIONSVERFAHREN
	EP2002203B1	Isra Surface Vision GmbH
	21.07.10 (229)	VERFAHREN UND SYSTEM ZUR FORMMESSUNG EINER SPIEGELNDEN OBERFLÄCHE
	EP2069714B1	Robert Bosch GmbH
	21.07.10 (229)	VERFAHREN ZUR FAHRWERKSVERMESSUNG EINES KRAFTFAHRZEUGS, FAHRWERKSVERMESSUNGSEINRICHTUNG SOWIE KRAFTFAHRZEUGPRÜFSTRASSE
	EP2089668B1	Plast-Control GmbH
	21.07.10 (229)	VERFAHREN FÜR BERÜHRUNGSLOSE KAPAZITIVE DICKENMESSUNGEN
	EP1074819B1	Valeo Schalter und Sensoren GmbH
	28.07.10 (236)	Lenkwinkelsensor
	EP1336817B1	Prüftechnik Dieter Busch AG
	28.07.10 (236)	Anordnung und Verfahren zum Ermitteln der relativen Ausrichtung zweier Körper
	EP1390688B1	Hexagon Metrology AB
	28.07.10 (236)	VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM AUTOMATISCHEN BESTIMMEN DER POSITION EINES MESSARMS ANHAND EINER ANORDNUNG VON REFERENZPUNKTEN
	EP1519138B1	Dr. Johannes Heidenhain GmbH
	28.07.10 (236)	Tastkopf
	EP1864080B1	Nanometrics Incorporated
	28.07.10 (236)	VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR VERBESSERTEN CRITICAL-DIMENSION-SCATTEROMETRIE
	EP2003419B1	Faro Technologies
	28.07.10 (236)	Verbesserte tragbare Koordinatenmessmaschine
	EP2122298B1	Rattunde & Co GmbH
	28.07.10 (236)	MESSSTEMPEL